吸光度測定

DD8-N　吸光度測定システム

吸光度（OD）、透過率、反射率を暗室不要で評価できます。
インライン対応可能。

概要

    • 吸光度（OD）、透過率を 暗室不要 で評価することができ、リアルタイム表示も可能です。
    • OD測定可能範囲：0～8OD　オプションで12OD までの測定が可能になります。
    　
  2. チョッパー方式のため、外光・ノイズをキャンセルできます。
  3. リファレンスに対するサンプルの透過率から光学濃度を計算します。
  4. 任意間隔で連続測定が可能です。
  5. 各種オプションまたカスタム仕様に対応します。
    • 複数ポイント測定
    • 偏光プリズムとの偏光度測定
    • 任意波長・任意角度での反射率・透過率測定
    • 高精度測定により極薄膜の解析が可能
DD8 3CHインラインモニター
多波長(λ_1、λ_2、...、λ_ｎ)でのフィッティングによる膜厚解析
測定画面イメージ

カタログ資料ダウンロード はこちらから資料ダウンロードにはパスワードが必要です、下記よりパスワードを取得して下さい。

パスワード取得はこちらのフォームからお願いいたします。